粒度粒形檢測(cè)儀使用一定周期后，內(nèi)部會(huì)積累一定量的塵埃，由維修工程師或在工程師指導(dǎo)下定期開(kāi)啟儀器外罩對(duì)內(nèi)部進(jìn)行除塵工作，同時(shí)將各發(fā)熱元件的散熱器重新緊固，對(duì)光學(xué)盒的密封窗口進(jìn)行清潔，必要時(shí)對(duì)光路進(jìn)行校準(zhǔn)，對(duì)機(jī)械部分進(jìn)行清潔和必要的潤(rùn)滑，zui后，恢復(fù)原狀，再進(jìn)行一些必要的檢測(cè)、調(diào)校與記錄。

　　

　　粒度粒形檢測(cè)儀參數(shù)：

　　

　?。?）粒形參數(shù)：等效面積直徑，篩分直徑（內(nèi)切圓直徑），平均直徑，Crofton直徑，顆粒長(zhǎng)度，顆粒寬度，顆粒zui大長(zhǎng)度，體積

　　

　?。?）粒形參數(shù)：ISO9276-6;7;8規(guī)定參數(shù)包括ISO圓度,ISO鈍度,ISO緊湊度,ISO線性度等.延伸度,長(zhǎng)寬比,圓度,凹度指數(shù),平均灰度,灰度,橢圓寬度,橢圓長(zhǎng)度,橢圓度,橢圓比,橢球延伸度,偏心率,實(shí)積度,鈍度,粗糙度

　　

　?。?）粒形參數(shù)：磨損指數(shù)，晶化度，孔隙度，用戶自定義

　　

　?。?）數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：oph 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)格式可存儲(chǔ)：粒徑分布，粒徑粒形。百分?jǐn)?shù)獨(dú)立顆粒圖像及灰度

　　

　?。?）數(shù)據(jù)比較：可顯示無(wú)上限多樣品比較圖表

　　

　?。?）可顯示圖表：粒徑分布圖，粒徑百分?jǐn)?shù)，粒形百分?jǐn)?shù)，平均粒形，2D散點(diǎn)分布圖，3D散點(diǎn)分布圖，樣品圖像百分比，樣品圖像，獨(dú)立顆粒圖像

　　

　?。?）統(tǒng)計(jì)工具：形貌學(xué)和粒徑過(guò)濾方式

　　

　　（8）顯微鏡模式：有手動(dòng)選項(xiàng)，可手動(dòng)設(shè)置樣品流速、實(shí)時(shí)觀察顆粒并顯示顆粒參數(shù)、存儲(chǔ)所需顆粒圖像

　　

　?。?）外部數(shù)據(jù)分析：可輸入、分析外部數(shù)據(jù)